TY  JOUR
TI  Исследование кристаллов AuNi/n-n+-GaN диодов Шоттки методами атомно-силовой микроскопии
KW  нитрид галлия
KW  барьер Шоттки
KW  омический контакт
KW  работа выхода
KW  поверхность
KW  метод зонда Кельвина АСМ
KW  электрическое поле периферии
JO  ИНФОКОММУНИКАЦИОННЫЕ И РАДИОЭЛЕКТРОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ
AU  Торхов, Н.А.
AU  Новиков, В..
PY  2019
IS  2
PB  ФГАОУ ВО «Севастопольский государственный университет»