%0 Journal Article
%T Экстракция параметров компактных моделей элементной базы интегральных микросхем специального назначения
%A Ловшенко, И..
%A Стемпицкий, В..
%A Шандарович, В..
%K радиационная стойкость, ионизирующее излучение, приборно-техническое моделирование, САПР, SPICE, модель, экстракция
%J ИНФОКОММУНИКАЦИОННЫЕ И РАДИОЭЛЕКТРОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ
%D 2019
%N 2
%P 9
%I ФГАОУ ВО «Севастопольский государственный университет»