%0 Journal Article
%T Физико-топологическая модель полевого транзистора, учитывающая деградацию эксплуатационных характеристик при влиянии ионизирующего излучения
%A Ловшенко, И..
%A Стемпицкий, В..
%A Шандарович, В..
%K радиационная стойкость, ионизирующее излучение, приборно-технологическое моделирование, САПР, SPICE, модель, полевой транзистор, Verilog-A, токовое зеркало, 6Т
%J ИНФОКОММУНИКАЦИОННЫЕ И РАДИОЭЛЕКТРОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ
%D 2019
%N 2
%P 9
%I ФГАОУ ВО «Севастопольский государственный университет»